The influence of deposition parameters on the structural quality of PLD-grown GaN/sapphire thin films - Université Claude Bernard Lyon 1 Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2014

The influence of deposition parameters on the structural quality of PLD-grown GaN/sapphire thin films

M. Kawwam
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02310844 , version 1 (10-10-2019)

Identifiants

Citer

M. Kawwam, Kheirreddine Lebbou. The influence of deposition parameters on the structural quality of PLD-grown GaN/sapphire thin films. Applied Surface Science, 2014, 292, pp.906-914. ⟨10.1016/j.apsusc.2013.12.078⟩. ⟨hal-02310844⟩
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