Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3 - Université Claude Bernard Lyon 1 Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3

David Balloy
Eric Charkaluk
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-01736338 , version 1 (16-08-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01736338 , version 1

Citer

Long Wang, Nora Dahdah, Nathalie Limodin, Ahmed El Bartali, Jean-Francois Witz, et al.. Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3. XIIe Colloque Rayons X et Matière, Nov 2017, Lille, France. pp.91. ⟨hal-01736338⟩
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